Kategorie produktów
Siatki z pokryciem: Holey Carbon
Wyświetlanie wszystkich 3 wyników
- SEM
- Apertury SEM
- Próbki testowe i kalibracyjne
- Zestawy eksploatacyjne
- Źródła elektronów
- Siatki nawigacyjne SEM
- Materiały ścierne i polerskie SEM
- Materiały do zatapiania SEM
- Materiały do mocowania próbek
- Zestawy do replik
- Pudełka na próbki
- Stoliki na próbki
- Modułowe stoliki na próbki
- Targety do napylarek
- Materiały do napylania próżniowego
- Smary i oleje próżniowe
- Standardy do mikroanalizy rentgenowskiej SEM
- Płyny do chłodziarek
- Standardy kalibracyjne FIB
- Uchwyty próbek
- Igły do FIB
- Materiały do preparatyki próbek FIB
- Pudełka na próbki FIB
- Stoliki na próbki FIB
- TEM
- Apertury TEM
- Standardy kalibracyjne TEM
- Noże diamentowe TEM
- Materiały do Cryo
- Źródła elektronów
- Pudełka na siatki TEM
- Siatki TEM bez pokrycia
- Siatki: Athene
- Siatki TEM: Omniprobe
- Siatki do identyfikacji
- Obróbka materiałów
- Filmy i papiery fotograficzne
- Żywice do zatapiania – akrylowe
- Żywice do zatapiania – epoksydowe
- Materiały do zatapiania w żywicy
- Sekcjonowanie
- Barwniki
- Siatki z pokryciem: Carbon
- Siatki z pokryciem: Formvar/Pioloform
- Siatki z pokryciem: Formvar Carbon
- Siatki z pokryciem: Graphene
- Siatki z pokryciem: Holey Carbon
- Siatki z pokryciem: Lacey Carbon
- Siatki: Quantofoil
- Siatki : Silicon
- Środki chemiczne do obróbki tkanek
- Materiały eksploatacyjne do obróbki tkanek TEM
- Materiały do napylania
- Smary i oleje próżniowe
- Standardy do mikroanalizy rentgenowskiej TEM
- LM
- Standardy kalibracyjne LM
- Szkiełka
- Noże diamentowe – Histo
- Materiały do sekcjonowania próbek
- Siatki do okularów mikroskopowych
- Filtry
- Siatki nawigacyjne
- Stoliki mrożeniowe i grzewcze
- Materiały histologiczne
- Obrazowanie
- Olejki immersyjne
- Chusteczki do obiektywu
- Akcesoria montażowe
- Wzorce mikrometryczne
- Materiały do zatapiania LM
- Materiały eksploatacyjne do obróbki
- Materiały eksploatacyjne do obróbki tkanek LM
- AFM
- Sondy Pelikan Probes
- Standardy kalibracyjne AFM
- Noże diamentowe AFM
- Preparatyka próbek
- Pudełka na próbki AFM
- Podłoża
- Sondy bez ostrza
- Sondy do pracy w próżni
- Sondy do szybkiego skanowana
- Sondy do trybów elektrycznych
- Sondy do trybu dynamicznego
- Sondy do trybu kontaktowego
- Sondy do trybu magnetycznego
- Sondy specjalnego przeznaczenia
- Sondy superostre
- Sondy z warstwą przeciwzużyciową
- Sondy z widocznym ostrzem
- METALOGRAFIA
- AKCESORIA
- INNE
- Materiały klejące
- Opakowania i etykiety
- Zlewki, tubki, pojemniki
- Materiały do czyszczenia
- Środki chemiczne
- Materiały kriogeniczne
- Płyny do pomp
- Materiały do sekcji próbek
- Szklane i plastikowe naczynia
- Materiały fotograficzne
- Materiały ścierne oraz polerskie
- Oleje i smary
- Rękawiczki ochronne
- Materiały ochronne
- Materiały do preparatyki próbek
- Pudełka do przechowywania
- Pojemniki i szafki na próbki
- Strzykawki i pipety
- Taśmy
- Tryskawki
- URZĄDZENIA
- KARIERA
