Leica EM TIC3X Urządzenie do ścieniania i polerowania jonowego – Leica Microsystems

Leica EM TIC 3X to system wykorzystujący trzy niezależnie kontrolowane działa jonowe, umożliwiający przygotowanie przekrojów poprzecznych i powierzchni płaskich do skaningowej mikroskopii elektronowej (SEM) i analizy mikrostruktury w różnych technikach m.in. EDS, WDS, Auger, EBSD, czy badań AFM.

System Leica EM TIC3X może być wyposażony aż w 5 różnych stolików na próbki, spełniając wymagania laboratoriów dla różnych próbek.

Dodatkowo urządzenie Leica TIC3X współpracuje z urządzeniem do mechanicznej preparatyki Leica EM TXP, dzięki czemu czas przygotowania gotowej próbki zostaje maksymalnie skrócony.

Port dokujący Leica VCT w połączeniu z Leica EM TIC 3X zapewnia bezpieczny i szybki sposób przenoszenia dla próbek wrażliwych na środowisko i/lub kriogenicznych, które mogą być

• materiałami biologicznymi,
• geologicznymi
• przemysłowymi

Następnie można je przenieść do napylarek Leica EM ACE600 lub Leica EM ACE900 i/lub systemów SEM. Transport próbki odbywa się  w otoczeniu gazu obojętnego/próżni/warunkach krio.

Specyfikacja:

• Parametry procesu są wprowadzane do urządzenia za pomocą zintegrowanego, dotykowego panelu sterującego.
• Prąd źródła: 0,5 do 4,5 mA / 0,1 mA (na źródło jonów)
• Całkowicie bezolejowy układ próżniowy działający w oparciu o pompę turbomolekularną z zakresem próżni < 1×10-5 mbar
• Proces odbywać się automatycznie. Istnieje możliwość importu/eksportu najważniejszych parametrów procesu poprzez port USB.
• Możliwość przygotowania przekrojów poprzecznych i polerowania powierzchni, wykorzystując jeden stolik na próbki.

Po więcej szczegółów zapraszamy na stronę PIK Instruments.