Mikroskopy Leica do badania czystości technicznej

Mikroskopy do analizy czystości technicznej oparte są na mikroskopach Leica Emspira 3, M125, DM4 oraz DM6 M. Wybrane systemy różnią się zakresem powiększeń oraz minimalną wielkością analizowanych cząstek.

Oprogramowanie analityczne LAS X Cleanliness Expert zapewnia wiele korzyści przyspieszających i ułatwiających proces kontroli w zakresie czystości technicznej. Oprogramowanie Cleanliness Expert to łatwe w użyciu, optymalne rozwiązanie zapewniające wiarygodne, powtarzalne wyniki analizy, dostosowane do Twoich potrzeb.

Zarządzaj więcej niż jedną próbką

Analizuj więcej niż jedną próbkę jednocześnie, zwiększ wydajność pracy i uprość proces dzięki zautomatyzowanej analizie cząstek. Połącz na przykład wiele próbek z jednego procesu filtracji w jedną partię do analizy i przypisz różne ustawienia klasyfikacji cząstek dla każdego filtra. Łatwo generuj raporty, aby udostępnić swoje wyniki.

Wybierz oprogramowanie Cleanliness Expert:

• Określ pełny potencjał niszczący cząstki poprzez pomiar wysokości, a nie tylko długości i szerokości
• Uzyskaj wiarygodne i powtarzalne wyniki dzięki funkcji zapamiętywania i przywoływania parametrów obserwacji
• Analizuj próbki okrągłe i/lub prostokątne

Skorzystaj z wyjątkowych cech oprogramowania Cleanliness Expert takich jak:

• Automatyczne rozróżnianie cząstek odbijających światło i nieodbijających światła
• Uwzględnienie indywidualnych wymagań
• Algorytmy autofokusa i detekcji dla analizy niezależnej od użytkownika dla uniknięcia błędów i zachowania powtarzalności
• Interfejs użytkownika jest konfigurowalny do specyficznych potrzeb

Normy:

VDA 19, ISO 16232, ISO 4406, NAS 1638, SAE AS4059, DIN 51455

Po więcej szczegółów zapraszamy na stronę PIK Instruments.