Moduły do rozciągania / ściskania – Kammrath & Weiss

Moduł rozciągający (opcjonalnie również moduł rozciągająco – ściskający i kompatybilny z techniką EBSD) to najdokładniejsze rozwiązanie na rynku, produkowane od 1995 roku przez niemiecką firmę Kammrath&Weiss. Moduły dedykowane są do zastosowań w mikroskopii SEM (tzw. technika in situ) oraz mikroskopów świetlnych, AFM czy linii synchrotronowych czy komorze klimatycznej (stanowiąc technikę ex situ).

Moduł umieszczany jest w taki sam sposób jak większa próbka. Dzięki temu, że śruby za pomocą których rozciągana jest próbka są nagwintowane gwintem prawo- i lewo-stronnym z przeciwnych stron, środek rozciąganej próbki pozostaje perfekcyjnie w punkcie początkowym i punkcie obserwacji.

Sterowany komputerowo mikroprocesor z rozbudowanym pakietem oprogramowania jest elementem standardowo dostarczanego urządzenia. Oprogramowanie jest niezwykle praktyczne w wykonywaniu testów cyklicznych. Ponadto w dostarczanym oprogramowaniu, umieszczone są takie funkcje jak rozpoznawanie momentu przełamania próbki czy możliwość przechwytu obrazów, aby tworzyć filmy z przeprowadzonych testów.

Inne możliwości:

Moduł do testów rozciągania włókien

Umożliwia wykonywanie testów rozciągania przy bardzo niskich siłach oraz z najwyższą dokładnością pomiaru (do 1×10⁻⁵ N). Zakres prędkości rozciągania od 0,1 do 20 µm/s pozwala na precyzyjne testy odkształceń dzięki wysokiej sztywności konstrukcji. Moduł umożliwia również obserwacje in-situ przy powiększeniach powyżej 10 000×, co pozwala na szczegółową analizę procesów zachodzących w materiale.

Moduł CT do testów rozciągania

Urządzenie stanowi rozwinięcie klasycznych modułów rozciągania/ściskania, dostosowane specjalnie do pracy w systemach tomograficznych.

Podczas pomiarów tomograficznych cała mechanika pozostaje nieruchoma- obracana jest jedynie próbka, zsynchronizowana dzięki pracy dwóch silników.

Moduł umożliwia wykonywanie testów rozciągania i ściskania do 2000 N (opcjonalnie do 5000 N), testów zginania do 2000 N oraz testów skręcania próbek do 3 Nm. W zestawie znajduje się adapter do montażu na osi Z stacji tomograficznej.

Aplikacje:

• Statyczne lub dynamiczne obserwacje zmian powierzchni pod kontrolowanym obciążeniem mechanicznym, wzrost pęknięć, zjawiska rozwarstwiania, tworzenie płaszczyzn poślizgu itp
• Metale, ceramika, szkło, ceramiczne materiały sypkie lub warstwy, powłoki galwaniczne, połączenia lutowane lub spawane, minerały, drewno, materiały organiczne.

Specyfikacja:

• Zakresy obciążeń: od 1 N do 5000 N (opcja 10kN)
• Wymiary próbki w mm (maks. rozmiary): 60 x 10 x 4
• Zakres prędkości deformacji: 0,1 do 20 µm/s. Inne zakresy prędkości na zamówienie.
• Przemieszczenie: Moduł jest wyposażony w liniowy miernik przemieszczenia enkodera. Wskaźnik ten obejmuje całkowity zakres przemieszczenia do 45 mm, z rozdzielczością 100 nm.
• Tensometr: Zakres: +/- 1 mm, rozdzielczość: <100 nm; inne na zamówienie
• Ogrzewanie / chłodzenie: od temperatury pokojowej do 1200 °C lub -190°C – +100 °C, w tym Sterownik PID.
• Ponad 30 różnych niestandardowych, dopasowanych zacisków
• Dostosowanie do: EBSD, dyfraktometru, AFM lub aplikacji w synchrotronie.
• Ekstensometr wideo: odkształcenie VEDDAC

Po więcej szczegółów zapraszamy na stronę PIK Instruments.