Sklep / SEM / Stoliki na próbki / Stoliki na próbki FIB / Niskoprofilowy stolik na próbki do SEM, średnica 12.7mm, 6mm pin

Niskoprofilowy stolik na próbki do SEM, średnica 12.7mm, 6mm pin

Name: Niskoprofilowy stolik na próbki do SEM, średnica 12.7mm, 6mm pin
SKU: 3711
Availability: BackOrder

185.17zł

Niskoprofilowy aluminiowy stolik pinowy dostępny jest w wersji płaskiej albo o kącie 90°, jak również o nietypowych kątach, aby przystosować próbkę do pracy na małych odległościach w aplikacjach FIB. Stolik o kącie 38° jest odpowiedni dla FEI DualBeam™ oraz systemów FIB, natomiast o kącie 36° jest przystosowany do systemów Zeiss/Leo CrossBeam® oraz NVision. Końcówki są w pełni kompatybilne ze standardowymi uchwytami na stoliki typu pin ( o średnicy 3.2mm) przeznaczonymi do przechowywania i transportu próbek. Stoliki mogą być używane z adapterami w systemach Hitachi, JEOL oraz ISI.