Pęsety chwytające EM-Tec do stolików SEM

Profesjonalne pęsety chwytające EM-Tec SEM stub gripper tweezers zostały zaprojektowane z myślą o bezpiecznym i precyzyjnym manipulowaniu stolikami oraz uchwytami próbek w mikroskopii elektronowej  SEM. Umożliwiają pracę bez bezpośredniego kontaktu z próbką, co znacząco ogranicza ryzyko zanieczyszczenia i poprawia jakość analiz.

Najważniejsze cechy:

• Precyzyjny chwyt stolików SEM – specjalnie profilowane końcówki dopasowane do różnych typów stolików
• Praca bezdotykowa – eliminacja ryzyka kontaminacji próbek
• Materiał antymagnetyczny – wysokiej jakości stal nierdzewna, idealna do zastosowań laboratoryjnych
• Kompatybilność z clean room – odpowiednie do pracy w kontrolowanych warunkach czystości
• Różne kąty końcówek – 30°, 45° i 60° dla wygodnej pracy pod różnymi kątami
• Szeroki zakres zastosowań – nie tylko stuby SEM, ale także próbki metalograficzne i dyski substratowe

Zastosowanie

Pęsety EM-Tec przeznaczone są do obsługi:

• rowkowanych stubów pinowych o średnicach: 12,7 mm, 19 mm, 25,4 mm, 32 mm
• cylindrycznych stubów:
  • JEOL: 9,5 mm, 12,2 mm, 25 mm, 32 mm
  • Hitachi / ISI: 15 mm, 25 mm, 32 mm

Końcówki dla stubów rowkowanych idealnie wpasowują się w rowek, zapewniając stabilny chwyt, natomiast modele do stubów cylindrycznych chwytają próbkę od góry.

Dostępne warianty

• Pęsety standardowe – precyzyjna kontrola i wygodna obsługa
• Wersje nożycowe (scissor type) – zwiększona siła chwytu dla większych stubów (Ø12,7 mm i Ø25,4 mm)

Dodatkowe możliwości

• manipulacja próbkami metalograficznymi (np. zatopionymi w żywicy Ø25–30 mm)
• obsługa próbek podczas trawienia powierzchni
• chwytanie dysków i podłoży na krawędziach