Próbka referencyjna do systemów detekcji elektronów wstecznie rozproszonych

Próbka referencyjna do systemów detekcji elektronów wstecznie rozproszonych

1,921.222,035.50

Mikroskop elektronowy wyposażony w detektor elektronów wstecznie rozproszonych umożliwia otrzymywanie obrazów, w których kontrast wynika z różnicy w liczbie atomowej obszarów na powierzchni materiału. Dostępne są cztery próbki referencyjne służące do testowania kontrastu materiałowego otrzymywanego przez system detekcji elektronów wstecznie rozproszonych.
Każda z próbek referencyjnych składa się z dwóch wysokiej czystości obszarów, których różnica liczby atomowej wynosi 1. Są to pręciki umieszczone jedna obok drugiej na kontrastującej matrycy.
Próbki są dostępne zamocowane na pojedynczym stoliku o średnicy 3mm lub 5mm  albo na tubce wykonanej z mosiądzu lub aluminium, może być też alternatywnie wmontowana w blok standardów.

Wariant Kod Cena netto Cena brutto Ilość
Próbka referencyjna BSE – Nikiel/Miedź AGS1950 2,009.42 2,471.59
Próbka referencyjna BSE – Pallad/Srebro AGS1951 1,945.76 2,393.28
Próbka referencyjna BSE – Platyna/Złoto AGS1952 1,921.22 2,363.10
Próbka referencyjna BSE – Aluminium/Krzem AGS1954 2,035.50 2,503.67
SKU: brak Kategoria:
PIK Instruments
KATEGORIE PRODUKTÓW
DANE KONTAKTOWE

PIK INSTRUMENTS sp. z o.o.
ul. Gen. L. Okulickiego 5F
05-500 Piaseczno, Polska
+48 22 726 74 96
kontakt@pik-instruments.pl

Korzystając ze strony zgadzasz się na wykorzystanie Cookies. wiecej informacji

The cookie settings on this website are set to "allow cookies" to give you the best browsing experience possible. If you continue to use this website without changing your cookie settings or you click "Accept" below then you are consenting to this.

Close