Wzorzec kalibracyjny – MetroChip

Wzorzec kalibracyjny – MetroChip

6,516.11

Wzorzec kalibracyjny MetroChip zapewnia szeroki zakres cech służących do kalibracji w technikach takich jak SEM, FIB, AFM, mikroskopia oraz metrologia świetlna. Jest dostarczany na chip’ie o wymiarach 20x20mm i grubości 750µm z cechami periodycznymi dla potrzeb kalibracji w zakresie 4mm w dół do 100nm.

Może być stosowany także w mikroskopii AFM oraz świetlnej i zawiera dużą liczbę cech do kontroli liniowości, zniekształceń i skanowania długości.

Cechy służące do kalibracji w technice SEM obejmują ustawione znaczniki, liniową mikroskalę, pomiary dystorsji, kalibrację przyosiową (przesunięcie obrazu), pomiary rozdzielczości, gwiazda do regulacji ostrości, kalibrację astygmatyzmu, siatki oraz koncentryczne kwadraty i okręgi. Kombinacja tych cech na jednym wzorcu sprawia, że MetroChip jest doskonałym wzorcem typu all-in-one zarówno do ustawień wstępnych, jak i do regularnych kontroli kalibracyjnych. Dzięki materiałowi wykonania charakteryzuje się zminimalizowanym efektem ładowania elektrostatycznego i trwałością.

Wzorzec MetroChip jest łatwy w nawigowaniu i dostarczany jest ze znacznikami wymiarów dotyczącymi większości cech. Charakteryzuje się dokładnością zgodną z certyfikacją NIST.

Wariant Kod Cena netto Cena brutto Liczba
Wzorzec kalibracyjny - MetroChip AGS1949 6,516.11 8,014.82
Standardy kalibracyjne AFM
DANE KONTAKTOWE

PIK INSTRUMENTS
ul. Gen. L. Okulickiego 7/9
05-500 Piaseczno, Polska
+48 22 726 74 96
kontakt@pik-instruments.pl

PRODUKT DNIA

Korzystając ze strony zgadzasz się na wykorzystanie Cookies. wiecej informacji

The cookie settings on this website are set to "allow cookies" to give you the best browsing experience possible. If you continue to use this website without changing your cookie settings or you click "Accept" below then you are consenting to this.

Close