Wzorzec stosowany w technice AFM. Okres struktury 145nm jest dokładny z precyzją ±1nm. Składa się z aluminiowych linii na szkle. Wysokość linii wynosi w przybliżeniu 100nm, szerokość 75nm.
Może być stosowany w trybach kontaktowym, tapping lub innych z rozmiarem obrazu od 250nm do 10µm. Dostępny jest z certyfikatem producenta bez spójności, certyfikat podaje średni okres struktury liczony ze zbioru linii.