Leica DM8000 oraz DM12000 Mikroskopy do mikroelektroniki

Usprawnij proces podejmowania decyzji dotyczących jakości produktu i zaoszczędź czas, uzyskując głębszy wgląd w próbki, dzięki optycznym systemom inspekcyjnym DM8000 M i DM12000 M. Te mikroskopy oferują szybką oraz niezawodną inspekcję i analizę materiałów takich jak półprzewodniki czy też podłoża krzemowe, umożliwiając przeprowadzanie kontroli jakości i szybkie wykrywanie wad.

Wykrywaj i analizuj różne struktury i defekty, takie jak zadrapania i zanieczyszczenia na próbkach. Wybieraj spośród szeregu metod oświetlenia i kontrastu, takich jak jasne pole, ciemne pole, polaryzacja, kontrast Nomarskiego (DIC), fluorescencja (Fluo) i podczerwień (IR), aby pomóc Ci przeprowadzić kontrolę szybko i niezawodnie. Popraw rozdzielczość dzięki światłu ultrafioletowemu (UV). Uzyskaj dodatkowe informacje o powierzchni dzięki oświetleniu ukośnemu. Połącz je z promieniowaniem UV, aby jeszcze bardziej zwiększyć kontrast.

Szybsze znajdowanie defektów podczas analizy pęknięć dzięki wyższemu kontrastowi wspieranemu przez zaawansowaną technikę ciemnego pola z obiektywami Plan Fluotar (20x, 50x i 100x).

Podczas inspekcji i kontroli jakości można zaoszczędzić czas i zmniejszyć liczbę błędów dzięki automatycznej regulacji ustawień i intuicyjnej obsłudze ostrości. Wystarczy nacisnąć przycisk, aby zmienić obiektyw i automatycznie dostosować ustawienia oświetlenia i kontrastu.

Zmotoryzowany uchwyt rewolwerowy umożliwia szybką i wygodną zmianę obiektywów, redukując niepotrzebne ruchy, oszczędzając czas i wysiłek. Próbka jest lepiej chroniona przed zanieczyszczeniem, ponieważ operatorzy nie muszą ręcznie zmieniać obiektywów.

Ponadto obiektyw 150x VIS-UV pozwala na wykorzystanie wszystkich metod kontrastu bez konieczności zmiany obiektywów.

Po więcej szczegółów zapraszamy na stronę PIK Instruments.